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智能集成芯片测试仪

成果编号
16055
完成单位
南京邮电大学
完成时间
2016年
成熟程度
研制阶段
价格
面议
服务产业领域
电子信息
单位类别
其他高校
关注
科技计划 成果形式
新产品
合作方式 参加活动
技术转让、技术咨询、技术服务
专利情况
未申请专利

成果简介

综合介绍
在实验中,由于学生初学电路,使用过程中,存在很多偶然的低级错误,造成芯片的损伤,给后面的实验造成很多麻烦,所以在实验过程中,为了排除这类因素,节省教学时间,可以使用此款芯片测试仪对芯片的功能进行校验。除此之外,芯片测试仪支持芯片自动查找功能,查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计,芯片库可在线实时更新,简单易用。除了用在实验室外,此芯片测试仪还可用于芯片的检测维修等场合。
通用IC集成电路芯片测试仪,用一个DIP40脚的插座,可实现通用集成芯片的测试,譬如74系列,54系列,常用的AD转换器,DA转换器,放大器,比较器,三极管,光耦等。
该测试仪可应用于高校电子电路实验室、高校计算机实验室、职业学院电子电路实验室、中专职校计算机实验室、常用芯片维修测试。
创新要点
芯片测试仪支持芯片自动查找功能,查找成功后会自动显示芯片的型号。测试仪软硬件独立设计,芯片库可在线实时更新,简单易用。除了用在实验室外,此芯片测试仪还可用于芯片的检测维修等场合。
技术指标
通用IC集成电路芯片测试仪,用一个DIP40脚的插座,可实现通用集成芯片的测试,譬如74系列,54系列,常用的AD转换器,DA转换器,放大器,比较器,三极管,光耦等
其他说明

                                    

完成人信息

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